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MarSurf M 400粗糙度仪磁性分离探头 新的MarSurf M 400在一个非常经济的入门级系统中提供了这一功能，是一个可以自动检测自动调零功能，可以大大提高测量的便利性和速度。 磁探头安装系统还可以保护微妙的探头，并且只需轻轻触摸即可快速更换探针臂。该单元符合所有适用的DIN，ISO，JIS，ASME和MOTIF标准，用于测量P，W和R型材中Z常见的表面光洁度参数。

马尔Marsurf M300粗糙度仪自由移动 Mahr联邦公司推出了Marsurf M300表面粗糙度测量系统，使用户可以访问和探测大型工件或部件上难以达到的表面。这些可包括螺旋桨或涡轮叶片。通过蓝牙无线连接允许用户在生产或检查环境中自由移动，同时发送数据以供后续评估和文档使用。有35个可分析参数，M300（Perthometer M1和M2系统的后继者）据称提供近实验室标准的测量性能。